| Author | Ward-Duong, K.; Patience, J.; Follette, K.; De Rosa, R. J.; Rameau, J.; Marley, M.; Saumon, D.; Nielsen, E. L.; Rajan, A.; Greenbaum, A. Z.; Lee, J.; Wang, J. J.; Czekala, I.; Duchêne, G.; Macintosh, B.; Ammons, S. Mark; Bailey, V. P.; Barman, T.; Bulger, J.; Chen, C. Chilcote, J.; Cotten, T.; Doyon, R.; Esposito, T. M.; Fitzgerald, M. P.; Gerard, B. L.; Goodsell, S. J.; Graham, J. R.; Hibon, P.; Hom, J.; Hung, L. -W.; Ingraham, P.; Kalas, P.; Konopacky, Q.; Larkin, J. E.; Maire, J.; Marchis, F.; Marois, C.; Metchev, S.; Millar-Blanchaer, M. A.; Oppenheimer, R.; Palmer, D.; Perrin, M.; Poyneer, L.; Pueyo, L.; Rantakyrö, F. T.; Ren, B.; Ruffio, J. -B.; Savransky, D.; Schneider, A. C.; Sivaramakrishnan, A.; Song, I.; Soummer, R.; Tallis, M.; Thomas, S.; Wallace, J. Kent; Wiktorowicz, S.; Wolff, S. |
|---|
