| Author | Luque, R.; Serrano, L. M.; Molaverdikhani, K.; Nixon, M. C.; Livingston, J. H.; Guenther, E. W.; Pallé, E.; Madhusudhan, N.; Nowak, G.; Korth, J.; Cochran, W. D.; Hirano, T.; Chaturvedi, P.; Goffo, E.; Albrecht, S.; Barragán, O.; Briceño, C.; Cabrera, J.; Charbonneau, D.; Cloutier, R. Collins, K. A.; Collins, K. I.; Colón, K. D.; Crossfield, I. J. M.; Csizmadia, Sz.; Dai, F.; Deeg, H. J.; Esposito, M.; Fridlund, M.; Gandolfi, D.; Georgieva, I.; Glidden, A.; Goeke, R. F.; Grziwa, S.; Hatzes, A. P.; Henze, C. E.; Howell, S. B.; Irwin, J.; Jenkins, J. M.; Jensen, E. L. N.; Kábath, P.; Kidwell, R. C.; Kielkopf, J. F.; Knudstrup, E.; Lam, K. W. F.; Latham, D. W.; Lissauer, J. J.; Mann, A. W.; Matthews, E. C.; Mireles, I.; Narita, N.; Paegert, M.; Persson, C. M.; Redfield, S.; Ricker, G. R.; Rodler, F.; Schlieder, J. E.; Scott, N. J.; Seager, S.; Šubjak, J.; Tan, T. G.; Ting, E. B.; Vanderspek, R.; Van Eylen, V.; Winn, J. N.; Ziegler, C. |
|---|
